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可以做10000N以內(nèi)整個(gè)材料中拉伸、壓縮、彎曲、剝離、刺破等試驗(yàn)，全液晶數(shù)控設(shè)定所需參數(shù)，曲線、位移、力值能動(dòng)態(tài)顯示在數(shù)顯器上，聯(lián)接電腦實(shí)現(xiàn)全電腦控制并打印標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)報(bào)告

導(dǎo)線拉力測(cè)試儀*根據(jù)用戶要求可求取非金屬材料的Z大強(qiáng)度、彈性模量（E）、定壓縮強(qiáng)度、定荷伸長(zhǎng)、屈服強(qiáng)度等。金屬材料的屈服強(qiáng)度、非比例強(qiáng)度、總壓縮強(qiáng)度、抗壓（拉）強(qiáng)度、延伸率等。

測(cè)試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測(cè)試。

三輪測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試。卡被放到機(jī)器中，測(cè)試輪將循環(huán)測(cè)試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，向下的壓力為8N。經(jīng)過(guò)測(cè)試，檢查芯片情況，芯片應(yīng)該是完好無(wú)損且功能正常。測(cè)試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測(cè)試。